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环境带来的误差既有系统误差(持续偏移),也会产生随机误差(数据忽大忽小),不同设备受环境敏感点不一样:力学、光学、色谱、天平类仪器对环境要求高。
1、温度(影响大)
环境温度波动:金属构件热胀冷缩,造成位移、尺寸类设备基准偏移;传感器存在温度漂移,力值、电阻、光学信号随温度改变。
温度梯度(局部温差):阳光直射、空调直吹、设备散热,造成仪器各部位温度不一致,产生扭曲形变,带来系统偏差。
试样与仪器温度不一致:样品温度高于 / 低于仪器,测试结果系统性偏离真值。
典型受影响设备:电子天平、拉力试验机、影像仪、轮廓仪、光栅类位移设备、光谱仪器。
2、湿度
高湿:光学镜头起雾结露;电路板绝缘下降,信号漂移;金属部件轻微锈蚀;部分样品吸水增重,改变被测物本身指标。
过低湿度(干燥):容易产生静电,干扰电子传感器、光学、微电子类检测,静电吸附灰尘,造成读数跳动。
典型受影响:光谱仪、显微镜、电子天平、理化分析仪器。
3、振动(地面振动)
分为持续性振动和冲击振动:空压机、风机、水泵、行车、冲压设备、人员走动、交通震动。
振动会造成光学成像抖动、天平读数跳变;
力学设备造成力值波动;
精密运动设备让定位重复性变差。
典型受影响:万分之一及以上天平、金相显微镜、轮廓仪、粗糙度仪。
4、电磁干扰
电网、变频器、电机、大功率设备、通讯设备产生电磁辐射。
干扰传感器微弱信号,数据乱跳,重复性变差;
造成仪器零点漂移。
表现:读数无规律跳动,校准后依旧不稳定。
5、空气洁净度、粉尘
粉尘落在光栅、导轨、镜头、传感器表面,造成定位不准、成像缺陷,产生随机误差;
粉尘进入力学运动副,增大摩擦,降低重复定位精度;
理化实验中粉尘污染样品,直接改变检测结果。
6、气压、空气流动
气压变化:高精度天平受大气浮力影响,气压改变会带来重量读数偏移;部分气体分析仪器受气压影响。
气流:空调风口直吹、门窗对流,气流冲击天平秤盘,读数不停跳动;光学仪器气流扰动造成光路偏移。